產(chǎn)品中心 應(yīng)用方案 技術(shù)文摘質(zhì)量保證產(chǎn)品選型 下載中心業(yè)內(nèi)動(dòng)態(tài) 選型幫助 品牌介紹 產(chǎn)品一覽 聯(lián)系我們
- 縮小太赫茲差距:微型激光是邁向新型傳感器的重要一步
- 來(lái)源:賽斯維傳感器網(wǎng) 發(fā)表于 2020/10/30
一項(xiàng)新的成像技術(shù)可快速測(cè)量固體的化學(xué)成分。樣品藥丸的常規(guī)圖像顯示在左側(cè)。在右側(cè),以太赫茲頻率觀察同一表面會(huì)發(fā)現(xiàn)各種成分具有不同的顏色。這樣的圖像將有助于藥品制造中的質(zhì)量控制和開(kāi)發(fā),以及醫(yī)學(xué)診斷和治療。圖片來(lái)源:Sterczewski等。
在開(kāi)發(fā)便攜式掃描儀的重大步驟中,該掃描儀可以快速測(cè)量藥物中的分子或?qū)颊咂つw中的組織進(jìn)行分類,研究人員創(chuàng)建了一種成像系統(tǒng),該系統(tǒng)使用足夠小且效率高的激光安裝在微芯片上。
該系統(tǒng)以太赫茲頻率發(fā)射和檢測(cè)電磁輻射,該頻率高于無(wú)線電波,但低于用于熱成像的長(zhǎng)波紅外光。使用太赫茲輻射成像一直是工程師的目標(biāo),但是創(chuàng)建在該頻率范圍內(nèi)工作的實(shí)際系統(tǒng)的困難已阻礙了大多數(shù)應(yīng)用,并導(dǎo)致了工程師所說(shuō)的“太赫茲間隙”。
普林斯頓大學(xué)電氣工程副教授,研究團(tuán)隊(duì)的負(fù)責(zé)人之一杰拉德·懷索基(Gerard Wysocki)表示:“在這里,我們擁有一種革命性的技術(shù),它沒(méi)有任何活動(dòng)部件,并且直接從半導(dǎo)體芯片發(fā)射太赫茲輻射。” 。
太赫茲輻射可以穿透諸如織物和塑料之類的物質(zhì),不會(huì)電離,因此可安全用于醫(yī)療用途,并可用于查看難以在其他頻率下成像的材料。該新系統(tǒng)在Optica期刊六月發(fā)表的一篇論文中進(jìn)行了描述,它可以快速探測(cè)分子的身份和排列或使材料受到結(jié)構(gòu)破壞。
該設(shè)備使用精確頻率的穩(wěn)定輻射束。該設(shè)置稱為頻率梳,因?yàn)樗鄠(gè)“牙齒”,每個(gè)牙齒發(fā)出不同的,定義明確的輻射頻率。輻射與樣品材料中的分子相互作用。雙梳狀結(jié)構(gòu)使儀器可以有效地測(cè)量反射輻射。反射輻射中的獨(dú)特圖案或光譜特征使研究人員能夠識(shí)別樣品的分子組成。
盡管當(dāng)前的太赫茲成像技術(shù)生產(chǎn)成本高且操作麻煩,但新系統(tǒng)基于半導(dǎo)體設(shè)計(jì),成本更低,每秒可生成許多圖像。這種速度可能使其對(duì)生產(chǎn)線和其他快節(jié)奏用途的藥物片劑的實(shí)時(shí)質(zhì)量控制有用。
Wysocki說(shuō):“想象一下,平板電腦每經(jīng)過(guò)100微秒,您就可以檢查它是否具有一致的結(jié)構(gòu),以及您期望的每種成分是否足夠!
作為概念的證明,研究人員創(chuàng)建了一種具有三個(gè)區(qū)域的平板電腦,這些區(qū)域包含藥品中常見(jiàn)的惰性成分-葡萄糖,乳糖和組氨酸的形式。太赫茲成像系統(tǒng)識(shí)別出每種成分,并揭示了它們之間的界限,以及一種化學(xué)物質(zhì)溢出到不同區(qū)域的幾個(gè)斑點(diǎn)。這種類型的“熱點(diǎn)”代表了藥物生產(chǎn)中的常見(jiàn)問(wèn)題,當(dāng)有效成分未正確混合到片劑中時(shí)會(huì)發(fā)生。
該團(tuán)隊(duì)還通過(guò)對(duì)美國(guó)四分之一區(qū)域成像來(lái)演示系統(tǒng)的分辨率。清晰可見(jiàn)的細(xì)節(jié),如鷹的翅膀羽毛,小至五分之一毫米寬。
盡管該技術(shù)使太赫茲成像的工業(yè)和醫(yī)學(xué)用途比以前更可行,但仍需要冷卻至低溫,這是實(shí)際應(yīng)用的主要障礙,F(xiàn)在,許多研究人員正在研究可能在室溫下工作的激光器。普林斯頓大學(xué)的研究小組說(shuō),其雙梳子高光譜成像技術(shù)將與這些新的室溫激光源一起很好地工作,然后可以打開(kāi)更多的用途。
太赫茲輻射由于不電離,因此對(duì)患者是安全的,并且有可能被用作皮膚癌的診斷工具。此外,該技術(shù)對(duì)金屬成像的能力可用于測(cè)試飛機(jī)機(jī)翼在飛行中被物體撞擊后是否受損。
除Wysocki外,普林斯頓大學(xué)的作者還曾是訪問(wèn)研究生Lukasz Sterczewski(現(xiàn)為NASA噴氣推進(jìn)實(shí)驗(yàn)室的博士后學(xué)者)和副研究員Jonas Westberg。其他合著者是麻省理工學(xué)院的Yang Yang,David Burghoff和Hu Qing。和桑迪亞國(guó)家實(shí)驗(yàn)室的John Reno。這項(xiàng)研究的支持部分由國(guó)防高級(jí)研究計(jì)劃局和美國(guó)能源部提供。
- 如果本文收錄的圖片文字侵犯了您的權(quán)益,請(qǐng)及時(shí)與我們聯(lián)系,我們將在24內(nèi)核實(shí)刪除,謝謝!